关于易捷测试南京线上分站
服务范围
提供半导体全生命周期测试支持：晶圆级（WAT/CP/I-V/C-V/在片老化）与封装级（ESD/闩锁/车规AEC-Q100/101）测试系统集成；射频微波测量（矢量分析仪+探针台）；光电与硅光器件测试（CIS/SPAD/LiDAR芯片）；集成电路可靠性验证（HCI/NBTI/TDDB/EM）及失效分析；面向高校、FAB厂、设计公司与国防单位的定制化系统交付。
核心优势
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多标准兼容
HED-G5000满足JEDEC、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、AEC、MIL-STD-883、GJB等全部主流静电测试规范
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模块化拓展
支持现场通道升级，2048通道可扩展，适应不同阶段测试规模需求
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超低寄生电容
特殊接地设计符合JS-001对低寄生电容设备的严苛要求
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跨领域整合
贯通半导体、射频、光电、可靠性四大测试方向，提供端到端系统方案
痛点方案
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芯片ESD验证难
HED-G5000覆盖HBM/CDM/TLP全模型，支持车规AEC-Q100/101标准，保障运输组装使用安全
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量产良率波动
提供晶圆级WLR老化与封装级ESD协同验证方案，定位静电敏感点，提升批次一致性
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测试标准难匹配
系统预置多国标准测试流程，支持客户快速切换并生成合规报告
服务流程
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1
需求诊断
联合客户梳理测试目标、标准、产能与环境约束
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2
方案设计
基于Keysight/MPI/TSK等平台定制软硬一体化架构
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3
集成部署
现场安装调试、通道校准、标准流程导入与操作培训
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4
持续支持
远程运维、软件迭代、通道扩容及新标准适配服务
常见问题
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Q：HED-G5000是否支持车规芯片测试？
A：支持，已通过AEC-Q100/101标准验证，满足汽车电子高可靠性测试要求。
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Q：能否对接现有探针台或测试平台？
A：可提供API接口与定制驱动，兼容主流探针台及ATE平台，支持异构系统集成。
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Q：是否提供测试软件开发服务？
A：自主研发半导体测试软件，支持脚本化测试流程、数据自动归档与报表生成。
实力见证
- 10+年 行业深耕
- 2048通道 单机容量
- 多所高校 科研合作
- 多家FAB厂 量产验证
技术背书
与Keysight、Maury Microwave、MPI、TSK、HANWA、STAr等国际主流设备厂商建立长期合作关系，技术方案获南京大学、浙江大学等高校及华为、张家港集成电路中心等产业单位应用验证。